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Vortrag: Mi 5.1

Datum: Mi, 01.02.2017

Uhrzeit: 09:00 - 10:30

Fehlertolerante Systeme testen mit seiteneffektfreier Fehlerinjektion – Eine Fallstudie

Uhrzeit: 09:00 - 09:45

Vortrag: Mi 5.1-1

Sprecher:

Joachim Fröhlich

Selbst wenn zufällige Fehler (HW) in voll funktionalen und in eingeschränkten Betriebsmodi auftreten, erledigt ein zuverlässiges System Aufgaben, für die es ausgelegt ist, korrekt und rechtzeitig. Im Mittelpunkt des Vortrags stehen Tests, die verlässliche Aussagen zum Verhalten des Systems schnell liefern, auch in kritischen, jedoch schwierig herzustellenden Situationen. Wenn das Zielsystem testbar gestaltet ist, dann kann ein passendes Testsystem Störungen stimulieren und Reaktionen beobachten, ohne testbedingte Seiteneffekte zu verursachen.

Zielpublikum: Tester, Architekten, Sicherheitsmanager, Produktmanager
Voraussetzungen: Kenntnisse über verteilte, zeitgesteuerte Systeme
Schwierigkeitsgrad: Fortgeschritten

"Von A bis Z": Testautomatisierung für Fortgeschrittene in der Praxis

Uhrzeit: 09:45 - 10:30

Vortrag: Mi 5.1-2

Sprecher:

Roman Nagy

Im Vortrag werden mehrere Facetten der Testautomatisierung aus einem Projekt im Bereich der Embedded-Software vorgestellt. Es werden Ansätze präsentiert, mit denen Testaktivitäten, jenseits der Testausführung und Testfallgenerierung, bzgl. Zeit/Kosten optimiert werden konnten. Die Skalierbarkeit spielt dabei eine sehr wichtige Rolle. Der Vortrag liefert die richtigen Impulse für Testarchitekten aus allen Branchen, die den nächsten Schritt in Richtung Skalierbarkeit und Reduzierung der manuellen Aufwände im Testprozess gehen wollen (und müssen).

Zielpublikum: Testmanager, Testautomatisierer, Projektleiter, Manager, Entscheider, Tester
Voraussetzungen: Projekterfahrung SW, Test-Know-how, Testautomatisierung
Schwierigkeitsgrad: Fortgeschritten

Lange Version:
Die Testautomatisierung ist heute ein fester Bestandteil vieler Softwareprojekte. Die Testfälle werden automatisch ausgeführt, oft werden sie auch aus einem Testmodell automatisch generiert. Reicht das aber? Was kann man alles noch automatisieren?

In diesem Vortrag wird ein Softwareprojekt aus dem Bereich der Embedded-Software vorgestellt. Aufgrund einer heterogenen und komplexen Testumgebung, waren die Zeiten für die Ausführung aller Testfälle über alle Testebenen sehr lang. Genauso war es sehr aufwändig, die Testreports zu analysieren und entsprechende Fehler-Tickets für die Entwicklung daraus abzuleiten. Deshalb wurde ein KPI „Time To Last-Ticket“ definiert, in dem die Zeit zwischen dem Start der Testausführung bis zum Abschluss der Fehleranalyse und Ticketerstellung gemessen wird. Anschließend wurde die Vorgabe ausgesprochen, diese Zeit um 80% zu reduzieren.
Der Weg und das Ergebnis dieser Optimierung werden in diesem Vortrag präsentiert. Neue Techniken wurden entwickelt, mit denen mehrere Schritte des Testprozesses bzgl. Zeit/Kosten und Skalierbarkeit optimiert werden konnten. Die Skalierbarkeit war dabei vor allem wegen der heterogenen und komplexen Testumgebung mit begrenzten Testressourcen ein sehr wichtiger Erfolgsfaktor.

Mit einem Vorher/Nachher Vergleich werden einzelne Aspekte des neuen Ansatzes durchleuchtet. Der Vortrag liefert die richtigen Impulse für Test-Architekten aus alle Branchen, die den nächsten Schritt in Richtung Skalierbarkeit und Reduzierung der manuellen Aufwände im Testprozess gehen wollen (oder müssen).

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